設備名稱：半導體功率器件動態測試系統

生產廠商：ITC

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的動態參數，如開關時間、柵電荷、反向恢復時間、短路耐量等參數

性能簡介：

最大電壓1200Vdc，最大電流200A；短路耐量峰值電流400A

設備名稱：半導體功率器件靜態測試系統

生產廠商：Tesec

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的靜態參數，如擊穿電壓、閾值電流、漏電流、導通電阻等

性能簡介：

電壓最大1200V，電流200A

設備名稱：半導體功率器件動態測試系統

生產廠商：Tesec

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的動態參數，如阻性開關時間、感性開關時間、反向恢復等

性能簡介：

電壓最大1500V，電流300A

設備名稱：半導體功率器件熱阻測試系統

生產廠商：Tesec

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的瞬態熱阻

性能簡介：

最大電壓200V，電流50A

設備名稱：穩態熱阻測試系統

生產廠商：ANALYSIS TECH

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的穩態熱阻、瞬態熱阻、結構函數、安全工作區等

性能簡介：

最大電壓50V，電流20A，延遲時間小于40us

設備名稱：半導體功率器件雪崩能量測試系統

生產廠商：ITC

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的雪崩耐量

性能簡介：

雪崩探測電壓2500V，電流400A；0.001~159.9mH可變電感箱

設備名稱：半導體功率器件雪崩能量測試系統

生產廠商：Tesec

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的雪崩耐量

性能簡介：

電壓200V，電流100A

設備名稱：半導體功率器件柵電荷測試系統

生產廠商：ITC

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的柵電荷

性能簡介：

最大電壓100V，電流100A

設備名稱：大功率半導體管特性圖示儀

生產廠商：上海新建

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的輸出特性曲線、擊穿曲線等

性能簡介：

電壓最大2000V  電流20A

設備名稱：高壓大電流圖示儀

生產廠商：IWATSU

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的輸出特性曲線，擊穿曲線、閾值電壓曲線等各類功率器件特性曲線

性能簡介：

電壓最大3000V，電流400A

設備名稱：8寸半自動測試探針臺

生產廠商：美國Teala

功能簡介：

該設備用于與半導體功率器件靜態測試系統、圖示儀結合使用，測試圓片的靜態參數

性能簡介：

8寸、6寸兼容；測試平臺溫度范圍：-60℃-200℃；磁性探針座：4個

平臺最大支持電壓： 10KV

設備名稱：小探針臺

生產廠商：深圳矽電

功能簡介：

該設備用于與半導體功率器件靜態測試系統結合使用，測試圓片的靜態參數

性能簡介：

適用于6寸探針臺自動測試

設備名稱：LCR測試系統

生產廠商：惠普

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的電容、電感、電阻

性能簡介：

最大偏置電壓100V

設備名稱：安捷倫精準LCR表

生產廠商：安捷倫

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的電容、電感、電阻

性能簡介：

最大電壓200V，頻率范圍75k-30MHz

設備名稱：超低溫溫箱

生產廠商：中科美菱

功能簡介：

該設備用于分析器件低溫特性

性能簡介：

溫度從-60℃至0℃

設備名稱：可靠性綜合測試分析系統

生產廠商：中科院

功能簡介：

該設備用于可以測試功率器件的峰值結溫、峰值熱阻、結溫分布等參數

性能簡介：

測量電流1mA-100mA可調，至少8階梯任意可調；施加功率范圍：電壓1-200V，電流1mA-5A

設備名稱：半導體功率器件動態測試系統

生產廠商：日本Tesec

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的動態參數，如感性開關時間、反向恢復等，短路耐量等

性能簡介：

開關參數及Trr測試能力：電壓1500V 電流300A    短路耐量：電壓1500V 電流2000A

設備名稱：諾泰分選機

生產廠商：深圳諾泰

功能簡介：

該設備用于自動測試各封裝形式的功率器件

性能簡介：

可測試封裝形式包含TO-220/TO-247/TO-264

設備名稱：半導體功率器件高壓靜態測試系統

生產廠商：Wen Micro

功能簡介：

該設備可用于測試半導體功率器件的靜態參數，如擊穿電壓、閾值電流、漏電流、導通電阻等

性能簡介：

最大電壓10000V  最大電流 3000A

設備名稱：半導體功率器件靜態測試系統

生產廠商：美國STI

功能簡介：

該設備用于測試功率器件的靜態參數，如擊穿電壓、閾值電流、漏電流、導通電阻等

性能簡介：

最大電壓2000V 最大電流100A